Noncontact Atomic Force Microscopy
S. Morita · Roland Wiesendanger · E. Meyer
دسمبر 2012 · Springer Science & Business Media
ای بک
440
صفحات
reportدرجہ بندیوں اور جائزوں کی تصدیق نہیں کی جاتی ہے مزید جانیں
اس ای بک کے بارے میں
Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. This method has the following characteristics: it has true atomic resolution; it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS); it can also be used to study insulators; and it can measure mechanical responses such as elastic deformation. This is the first book that deals with all of the emerging NC-AFM issues.
اس ای بک کی درجہ بندی کریں
ہمیں اپنی رائے سے نوازیں۔
پڑھنے کی معلومات
اسمارٹ فونز اور ٹیب لیٹس
Android اور iPad/iPhone.کیلئے Google Play کتابیں ایپ انسٹال کریں۔ یہ خودکار طور پر آپ کے اکاؤنٹ سے سینک ہو جاتی ہے اور آپ جہاں کہیں بھی ہوں آپ کو آن لائن یا آف لائن پڑھنے دیتی ہے۔
لیپ ٹاپس اور کمپیوٹرز
آپ اپنے کمپیوٹر کے ویب براؤزر کا استعمال کر کے Google Play پر خریدی گئی آڈیو بکس سن سکتے ہیں۔
ای ریڈرز اور دیگر آلات
Kobo ای ریڈرز جیسے ای-انک آلات پر پڑھنے کے لیے، آپ کو ایک فائل ڈاؤن لوڈ کرنے اور اسے اپنے آلے پر منتقل کرنے کی ضرورت ہوگی۔ فائلز تعاون یافتہ ای ریڈرز کو منتقل کرنے کے لیے تفصیلی ہیلپ سینٹر کی ہدایات کی پیروی کریں۔
